Näytetään tulokset 1 - 10 / 4893
tulosta / sivu
Mitä julkaisutietoja palvelu sisältää?
Julkaisun nimi
Tekijät
Julkaisukanava
Vuosi
 Julkaisujen tiedon ikoni

CCD camera for direct X-ray topography imaging

Vertaisarvioitu
Simomaa, K.; Tuomi, T.; Partanen, J.
University of Siegen1992 Julkaisujen tiedon ikoni

Material characterization and fabrication of compound semiconductor X-ray detectors

Avoin saatavuus
Kostamo, Pasi
Aalto University2017 Julkaisujen tiedon ikoni

Characterization of edgeless CdTe detectors for use in hard X-Ray imaging applications

Vertaisarvioitu
DOI
10.1109/TNS.2012.2197025
Veale, Matthew C.; Bell, Steven J.; Jones, Lawrence L.; Seller, Paul; Wilson, Matthew D.; Cernik, Ro...
IEEE Transactions on Nuclear Science2012 Julkaisujen tiedon ikoni

Compound semiconductor detectors for X-ray astronomy: Spectroscopic measurements and material characteristics

Vertaisarvioitu
DOI
10.1557/PROC-487-565
Bavdaz, M.; Kraft, S.; Peacock, A.; Scholze, F.; Wedowski, M.; Ulm, G.; Nenonen, S.; Gagliardi, M.-A...
-1997 Julkaisujen tiedon ikoni

Cadmium Telluride X-ray pad detectors with different passivation dielectrics

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
DOI
10.1016/j.nima.2018.08.063
Gädda, Akiko; Ott, Jennifer; Karadzhinova-Ferrer, Aneliya ; Golovleva, Maria; Kalliokoski, Matti; Wi...
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors...2019 Julkaisujen tiedon ikoni

X-ray Absorption Spectroscopy and X-ray Diffraction of Co/SiO2

Eteläniemi, V.; Backman, L.B.; Rautiainen, Aimo; Krause, A.O.I.; Paakkari, T.
-1998 Julkaisujen tiedon ikoni

Silicon detectors for X-ray spectrometry

Tikkanen, T
-1998 Julkaisujen tiedon ikoni

Silicon detectors for X-ray spectrometry

Vertaisarvioitu
Tikkanen, T
Acta Polytechnica Scandinavia, Applied Physics Series No. 217(1998) 50 ss1998 Julkaisujen tiedon ikoni

Silicon detectors for X-ray spectrometry

Vertaisarvioitu
Tikkanen, T
Acta Polytechnica Scandinavica, Applied Physics Series No. 217 (1998) 50 ss1998 Julkaisujen tiedon ikoni

Silicon pin-detectors for scintillation light, elementary particles and X-ray spectroscopy

Tisnek, N.; Kuivalainen, P.; Khusainov, A.Kh.; Zhukov, M.A.; Saveliev, V.D.
-2000

CCD camera for direct X-ray topography imaging

Vertaisarvioitu
1992

Material characterization and fabrication of compound semiconductor X-ray detectors

Avoin saatavuus
2017

Characterization of edgeless CdTe detectors for use in hard X-Ray imaging applications

Vertaisarvioitu
DOI
10.1109/TNS.2012.2197025
2012

Compound semiconductor detectors for X-ray astronomy: Spectroscopic measurements and material characteristics

Vertaisarvioitu
DOI
10.1557/PROC-487-565
1997

Cadmium Telluride X-ray pad detectors with different passivation dielectrics

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
DOI
10.1016/j.nima.2018.08.063
2019

X-ray Absorption Spectroscopy and X-ray Diffraction of Co/SiO2

1998

Silicon detectors for X-ray spectrometry

1998

Silicon detectors for X-ray spectrometry

Vertaisarvioitu
1998

Silicon detectors for X-ray spectrometry

Vertaisarvioitu
1998

Silicon pin-detectors for scintillation light, elementary particles and X-ray spectroscopy

2000